Физико-химические основы технологии электронных средств. Шелохвостов В.П - 24 стр.

UptoLike

jS
P
d
=
, (6.13)
где jудельный вес вещества пленки; Sплощадь, занимаемая пленкой.
Из методов многолучевой интерферометрии чаще всего применяют способ полос равной толщи-
ны. В основе его лежит получение разности фаз двух когерентных лучей, отраженных от подложки и
поверхности пленки. Перед измерением на образце получают так называемую ступенькурезкую бо-
ковую границу пленки на подложке. Это достигается либо с помощью маскирования части подложки
при осаждении пленки, либо путем химического удаления части осажденной пленки. Чередующиеся
светлые и темные интерференционные полосы с шагом Н как на поверхности пленки, так и на подложке
смещены относительно друг друга у границы пленки на величину Н (рис. 6.1).
Толщину пленки d рассчитывают по формуле
Η
Η
d
2
λ
=
, (6.14)
где λдлина волны монохроматического света.
Если пленка прозрачная, то на пленку и подложку районе «ступеньки» осаждают дополнительно не-
прозрачную, хорошо отражающую металлическую пленку, например, алюминий. Для уменьшения вноси-
мой
погрешности ее толщина должна быть много меньше толщины измеряемой пленки.
Относительная ошибка метода составляет не более 5 % при толщинах пленки более одного мкм и
порядка 10 % при толщинах менее 1 мкм.
Рис. 6.1 Картина сдвига интерференционных полос микроскопа:
1измеряемая пленка; 2подложка; 3интерференционные полосы
Таблица 6.1
Толщина окисных пленок, мкм
Порядок интерференции
Цвет
1 2 3 4
Серый 0,01
Рыжевато-коричневый 0,03
Коричневый 0,05
Голубой 0,08
Фиолетовый 0,1 0,2750 0,4650 0,6500
Синий 0,15 0,30 0,49 0,6850
Зеленый 0,185 0,33 0,52 0,7200
Желтый 0,21 0,37 0,56 0,75
Оранжевый 0,225 0,40 0,60
Красный 0,250 0,4350 0,6250
Лабораторное задание
Лабораторная работа в полном объеме рассчитана на шесть часов и предусматривает эксперимен-
тальную, расчетную части и оформление:
2
1
3
d
H