Проектирование интегральных микросхем. Шелохвостов В.П - 33 стр.

UptoLike

Рис. 2.2.3. Последовательность изготовления ИМС
с биполярными и полевыми транзисторами:
1подложка; 2оксидный слой; 3разделительные канавки
Следующий блок операций (девятый) включает вскрытие окон под контакты ко всем областям
(фотолитография-5) и напыление сплошного слоя алюминия толщиной порядка 1,0 мкм.
Заключительный этап работы с пластинойфотолитография-6, при этом формируется топология
межэлементных соединений и контактных площадок (десятый блок операций).
2.2.4. Технологический маршрут изготовления тонкопленочных
гибридных микросхем (ГИМС)
Технология содержит ряд операций выполнения тонкопленочных пассивных элементов (резисторы,
конденсаторы, индуктивные катушки и др.) методами нанесения материала на поверхность неактивной
подложки.
Активные составляющие выполнены в виде компонентов, изготовленных по технологии полупроводниковых
ИМС и после создания пассивной части микросхемы производится их монтаж на поверхность подложки.
Основные этапы выполнения пленочных элементов (резисторов, конденсаторов) гибридных тонкопленочных
микросхем приведены на рис. 2.2.4.
Используемые подложкистекло, керамика, ситалл, например СТ50-1 с односторонней рабочей
поверхностью. Их очистка включает обезжиривание изопропиловым спиртом, трихлорэтиленом, промывка
деионизованной водой, сушка центрифугой.
На первом этапе выполняют пленочные резисторы. Для этого производят напыление слоя выбранного
резистивного материала с требующимся для лучшей адгезии подслоем. Далее первой литографией формируется
топология резисторов: центрифугой наносится фоторезист; после сушки поверхность экспонируется через
фотошаблон в ультрафиолетовом световом потоке; при последующей химической обработке сохраняются
участки, прикрывающие площадь с конфигурацией будущих резисторов; последующее дубление окончательно
формирует кислотостойкую маску; пленка, не закрытая маской, удаляется при травлении и тем самым
формируется топология резисторов; заканчивается этот блок операций удалением маски с поверхности тела
резисторов.