Физические методы исследования полимеров. Шестаков А.С. - 48 стр.

UptoLike

Составители: 

48
чается полная рентгенодифракционная картина (как при фотографии), но
уже со всеми количественными характеристиками (как в случае счётчи-
ков).
Качественный анализ дифракционных картин рассеяния в больших
углах позволяет получить данные о морфологии образца (кристаллический
он или аморфный), примерном содержании кристаллической фракции,
преимущественной ориентации кристаллитов , степени упорядоченности,
совершенстве кристаллических участков , степени ориентации, периодич -
ности вдоль оси волокна.
Количественный анализ того , как зависит интенсивность пучка рент -
геновских лучей от угла рассеяния (2
θ
), позволяет получить данные , необ-
ходимые для определения параметров элементарной кристаллической
ячейки , расчёта межатомных расстояний и углов связей, определения сте-
пени кристалличности полимеров .
Рис.47 Схема устройства (а) и геометрия (б) рентгеновского дифракто-
метра. 1 рентгеновская трубка ; 2 щели Соллера; 3, 5 щель коллиматора; 4
образец; 6 приёмная щель; 7, 9 счётчик; 8 фокальная поверхность.
                                              48
ч ае т ся полная ре нт ге нодифракц ионная карт ина (какпри фот ографии), но
уж е со в се ми колич е ст в е нными характе рист иками (какв случ ае сч ё т ч и-
ков ).




Рис.47 С хе ма уст ройст в а (а) и ге оме т рия (б) ре нт ге нов ского дифракто-
ме т ра. 1 – ре нт ге нов ская т рубка; 2 – ще ли С олле ра; 3, 5 – ще ль коллимат ора; 4 –
образе ц ; 6 – приё мнаяще ль; 7, 9 – сч ё т ч ик; 8 – фокальнаяпов е рхност ь.

       К ач е ст в е нный анализ дифракц ионных карт ин рассе яния в больш их
углах позв оляе т получ ит ь данные о морфологии образц а (крист аллич е ский
он или аморфный), приме рном соде рж ании крист аллич е ской фракц ии,
пре имуще ст в е нной орие нт ац ии крист аллит ов , ст е пе ни упорядоч е нност и,
сов е рш е нст в е крист аллич е ских уч аст ков , ст е пе ни орие нт ац ии, пе риодич -
ност и в доль оси в олокна.
       К олич е ст в е нный анализ т ого, какзав исит инт е нсив ност ь пуч ка ре нт -
ге нов ских луч е й от угла рассе яния(2θ), позв оляе т получ ит ь данные , не об-
ходимые для опре де ле ния параме т ров эле ме нт арной крист аллич е ской
яч е йки, расч ё т а ме ж ат омных расст ояний и углов св язе й, опре де ле ния ст е -
пе ни крист аллич ност и полиме ров .