ВУЗ:
Рубрика:
1. Однородный образец плохо концентрирующий с плоским электродом.
Пусть
,
3
2
10
−
=d
3
2
=
ε
, , , зазор
воздушный -
320
10
−
= мn
2121
10
−−−
= секВмU
1
1
=
ε
, . При этом , .
мd
6
1
10
−
=
1105
5
>>⋅=h
мгцf 10
0
=
2. Полимерная пленка органического полупроводника в “сэндвичной”
конструкции с напыленным электродом. Здесь возможен приэлектродный
зазор
. Пусть , ,
,
Ad
&
100
1
≈ мd
6
2
105.0
−
⋅=
322
10
−
= мn
2124
10
−−−
= секВмU
3
2
=
ε
. Тогда
33
=
h
, (по М-В
).
Гцf
8
0
102 ⋅=
Гцf
8
0
10=
3. Порошок полупроводника, например, окиси цинка с размером зерен
около
, ,
м
6
10
−
320
104
−
⋅= мn
1
1
=
ε
, ,
2122
102
−−−
⋅= секВмU
5,8
2
=
ε
.
Здесь
и (по М-В ).
6=h
Гцf
9
0
102 ⋅= Гцf
9
0
103,1 ⋅=
4. Порошковый препарат белка с размерами кристаллов и
предположительно с
, . При этом
и (по М-В ).
320
10
−
= мn
2124
10
−−−
= секВмU
5,0=h
Гцf
8
0
108⋅= Гцf
6
0
108⋅=
5. Суспензия фрагментов фотосинтетического аппарата, например,
реакционных центров (р.ц.) в воде. Здесь концентрация свободных
зарядов может предположительно составлять
( 1 заряд на
реакционный центр
)
324
10
−
= мn
Ad
&
100
2
=
3
2
=
ε
,
30
1
=
ε
,
5
=
h
и .
Гцf
11
0
10=
Таким образом, теоретическое рассмотрение приводит к выводу, что
определение электрофизических параметров большинства мелкодисперсных
объектов, представляющих интерес для физики полимеров и биополимеров (и в
некоторых случаях для физики полупроводников возможно при использовании
диапазона свервысоких частот порядка
(
Гц
109
1010 −
см303
−
=
λ
).
ТЕХНИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДА
В основе резонаторного метода регистрация проводимости и
фотопроводимости лежит измерение тем или иным способом изменение
добротности резонатора при помещении в него образца или при освещении
образца соответственно. Теория этого вопроса подробно изложена в
литературе. Поэтому ограничимся лишь упоминанием основных положений.
Сделаем это, следуя работе [2].
Затухание свободных колебаний в резонаторе происходит
из-за энергии в
стенках резонатора, в материале полностью или частично заполняющий
резонатор, и через отверстия связи резонатора с волноводными линиями.
Среднюю мощность потерь можно представить соответственно в виде
.
отвМст
РРPP
+
+
=
(2.1)
1. Однородный образец плохо концентрирующий с плоским электродом.
Пусть d 2 = 10 ,
−3
ε 2= 3 , n = 10 20 м −3 , U = 10 −1 м 2 В −1сек −2 , зазор
воздушный - ε 1 = 1 , d1 = 10 м . При этом h = 5 ⋅10 >> 1 , f 0 = 10 мгц .
−6 5
2. Полимерная пленка органического полупроводника в “сэндвичной”
конструкции с напыленным электродом. Здесь возможен приэлектродный
зазор d1 ≈ 100 A& . Пусть d 2 = 0.5 ⋅ 10−6 м ,
n = 10 22 м −3 ,
U = 10 −4 м 2 В −1сек −2 , ε 2= 3 . Тогда h = 33 , f 0 = 2 ⋅ 108 Гц (по М-В
f 0 = 108 Гц ).
3. Порошок полупроводника, например, окиси цинка с размером зерен
−6 −3
около 10 м , n = 4 ⋅ 10 м ,
20
ε1 = 1 , U = 2 ⋅ 10 −2 м 2 В −1сек −2 , ε 2= 8,5 .
Здесь h = 6 и f 0 = 2 ⋅ 10 Гц (по М-В f 0 = 1,3 ⋅ 10 Гц ).
9 9
4. Порошковый препарат белка с размерами кристаллов и
−3 −4 −1 −2
предположительно с n = 10 м , U = 10 м В сек .
20 2
При этом
h = 0,5 и f 0 = 8 ⋅ 10 Гц (по М-В f 0 = 8 ⋅ 10 Гц ).
8 6
5. Суспензия фрагментов фотосинтетического аппарата, например,
реакционных центров (р.ц.) в воде. Здесь концентрация свободных
−3
зарядов может предположительно составлять n = 10 м (
24
1 заряд на
& ) ε = 3 , ε = 30 , h = 5 и f = 10 Гц .
реакционный центр d 2 = 100 A
11
2 1 0
Таким образом, теоретическое рассмотрение приводит к выводу, что
определение электрофизических параметров большинства мелкодисперсных
объектов, представляющих интерес для физики полимеров и биополимеров (и в
некоторых случаях для физики полупроводников возможно при использовании
диапазона свервысоких частот порядка 10 − 10 Гц ( λ = 3 − 30см ).
9 10
ТЕХНИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ МЕТОДА
В основе резонаторного метода регистрация проводимости и
фотопроводимости лежит измерение тем или иным способом изменение
добротности резонатора при помещении в него образца или при освещении
образца соответственно. Теория этого вопроса подробно изложена в
литературе. Поэтому ограничимся лишь упоминанием основных положений.
Сделаем это, следуя работе [2].
Затухание свободных колебаний в резонаторе происходит из-за энергии в
стенках резонатора, в материале полностью или частично заполняющий
резонатор, и через отверстия связи резонатора с волноводными линиями.
Среднюю мощность потерь можно представить соответственно в виде
P = Pст + Р М + Ротв . (2.1)
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 13
- 14
- 15
- 16
- 17
- …
- следующая ›
- последняя »
