Технология радиоэлектронных средств. Ч.1. Светличный А.М - 56 стр.

UptoLike

56
окуляра из точки А в точку В (см. рис.П4.1,в). Для случая б(рис.
П3.1), Х
0
= а
2
/D, т.е. толщину диффузионного слоя можно
определить по формуле
L
2
Х
0
= —— ,
4D
где Х
0
толщина диффузионного слоя;
L – длина хорды в показаниях барабана микроскопа;
D диаметр шарика, с помощью которого осуществляется
шлифовка полупроводниковой пластины (D = 30 мм)
R
R
B
А
Х
0
а)
А
В
в)
Рис.П4.1