Оптимизация параметров конструкций и техпроцессов производства электронных средств. Талицкий Е.Н. - 22 стр.

UptoLike

Составители: 

22
4. В вершинах симплекса выполняют наблюдения отклика и
сравнивают по величине; выбирают вершину с минимальным от-
кликом и отражают ее относительно противолежащей стороны
или грани; находят вершину следующего симплекса II, п вершин
которого одновременно являются и вершинами предыдущего
симплекса I. Координаты отраженной вершины вычисляют по
формуле
,1 2
2
()
il k ilk i k ilk
xxxx
n
+
=+±
, (29)
где iномер фактора (i = 1, 2, ..., п); lномер вершины k-го симплек-
са, где обнаружен минимальный отклик; k + 1 – номер последующего
симплекса, содержащего отраженную вершину (ей условно присваи-
вают тот же номер l); пчисло факторов.
Если минимальный отклик оказался сразу в двух вершинах, то
вопрос, какую из них отражать, решают произвольно, например, с
помощью подбрасывания монеты.
5. Ставят эксперимент в отраженной вершине нового симплекса
и отклик в ней сравнивают с откликами в остальных п вершинах, а за-
тем снова выбирают вершину с минимальным откликом и отражают
ее через противолежащую сторону (или грань) симплекса. Если в но-
вой вершине (k + 1)-го симплекса отклик оказался опять минималь-
ным, то возвращаются к k-му симплексу и отражают вторую по ми-
нимальности вершину. Если это явление повторяется, то отражают
третью по минимальности вершину и т. д.
6. Эксперимент продолжают до тех пор, пока симплекс не со-
вершит полный оборот вокруг одной из вершин. На рис. 6 это верши-
на С
11
. Очевидно, что точность нахождения точки экстремума зависит
от двух причин: размера симплекса и влияния помех. Для уточнения
положения экстремальной точки статического объекта в последних
симплексах рекомендуется ставить параллельные опыты, чтобы сни-
зить влияние помех, а также выполнить опыт в середине того сим-
плекса, в вершинах которого отклик оказался максимальным по срав-
нению с остальными симплексами.