ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
173
y y
10.2. ОПТИМИЗАЦИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПЛАНИРОВАНИЯ ЭКСПЕРИМЕНТА
Задачи оптимизации можно решать двумя способами графическим
и аналитическим.
При графическом способе решения строят двухмерные сечения
одной поверхности отклика, которые совмещают с двухмерными сече-
ниями другой поверхности отклика [20]. Анализируя совмещённые
двухмерные сечения, находят условные экстремумы. Для получения
двухмерных сечений в уравнения регрессии подставляют значения
(предположительно близкие к оптимальным) всех факторов, кроме лю-
бых двух. При заданном значении функции отклика получают зависи-
мость между двумя факторами, которую на плоскости можно предста-
вить в виде кривой. Задавая различные значения параметра оптимиза-
ции, можно построить семейство кривых равного отклика. Этим спосо-
бом можно получить наглядное представление о влиянии каждой пары
факторов на параметр оптимизации.
Графический метод достаточно прост и отличается большой на-
глядностью, однако он удобен только при малом числе факторов. При
числе факторов k > 3 графический метод оказывается очень громоздким.
Широко применяется симплексный метод оптимизации [20].
Для поиска оптимума очень часто используют шаговый метод,
который предусматривает выполнение двух этапов: а) изучение неко-
торой области поверхности отклика с целью определения направления
движения к оптимуму; б) движение к оптимуму по установленному
направлению.
Например, методом крутого восхождения необходимо найти
максимум величины у, которая зависит от двух факторов х
1
и х
2
. Функ-
ция отклика y = f(х
1
, х
2
) представляет собой уравнение поверхности,
которую можно представить линиями равного отклика на факторной
плоскости х
1
х
2
(рис. 10.1).
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 172
- 173
- 174
- 175
- 176
- …
- следующая ›
- последняя »
