Волновая и квантовая оптика. Задера С.Я - 50 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ПГУ | Пенза

Составители: 

Рубрика: 

- 50 -
дополнительный к углу падения и называемый углом скольжения падающих
лучей. Следовательно, направления, в которых получаются дифракционные
максимумы, определяются условием:
2sin
dm
θ
λ
=
±
(
)
1; 2; . ..m
=
(43)
Это соотношение называется формулой Брэгга – Вульфа. Из формулы
(43) следует, что наблюдение дифракционных максимумов возможно только
при определенном соотношении между
λ
и θ:
2
sin
d
m
λ
θ
= .
Дифракция рентгеновских лучей от кристаллов находит два основных
применения. Она используется для исследования спектрального состава
рентгеновского излучения и для изучения структуры кристаллов.
Тема 8. Характеристики спектральных аппаратов.
8.1. Угловая и линейная дисперсия.
8.2. Разрешающая способность спектрального аппарата.
8.1 Угловая и линейная дисперсия
Основное назначение спектральных аппаратов состоит в установлении
длины волны исследуемого света – задача, которая сводится к измерению
На рис. 24 изображены две соседние
сетчатые плоскости АА
/
и ВВ
/
.
Оптическая разность хода между
лучами 1
/
и 2
/
, отраженных от
рассматриваемых плоскостей равна:
2sinDE DF d
θ
Δ= + = ,
где d – период структуры кристалла
в направлении, перпендикулярном к
рассматриваемым слоям,
θ - угол,
θ
θ
Рис. 24. Отражение лучей от системы
параллельных сетчатых плоскостей
кристалла
θ
θ
θ
θ
                                                   На рис. 24 изображены две соседние
        θ                      θ                   сетчатые плоскости АА/ и ВВ/.
        θ                      θ                   Оптическая разность хода между
                                                   лучами 1/ и 2/, отраженных от
                  θ
                  θ                                рассматриваемых плоскостей равна:
                                                         Δ = DE + DF = 2d sin θ ,

    Рис. 24. Отражение лучей от системы            где d – период структуры кристалла
     параллельных сетчатых плоскостей
                 кристалла                         в направлении, перпендикулярном к
                                                   рассматриваемым слоям, θ - угол,


дополнительный к углу падения и называемый углом скольжения падающих
лучей. Следовательно, направления, в которых получаются дифракционные
максимумы, определяются условием:
                       2d sin θ = ± mλ ( m = 1;2;...)                     (43)
      Это соотношение называется формулой Брэгга – Вульфа. Из формулы
(43) следует, что наблюдение дифракционных максимумов возможно только
                                                        λ          2d
при определенном соотношении между λ и θ:                      =      .
                                                       sin θ       m
Дифракция рентгеновских лучей от кристаллов находит два основных
применения. Она используется для исследования спектрального состава
рентгеновского излучения и для изучения структуры кристаллов.



            Тема 8. Характеристики спектральных аппаратов.


8.1. Угловая и линейная дисперсия.
8.2. Разрешающая способность спектрального аппарата.
                      8.1 Угловая и линейная дисперсия


     Основное назначение спектральных аппаратов состоит в установлении
длины волны исследуемого света – задача, которая сводится к измерению
                                          - 50 -

Страницы