Методические указания к лабораторному практикуму по курсу "Рентгенография металлов". Занин И.Е - 14 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВГУ | Воронеж

Составители: 

Рубрика: 

14
Так как колебания атомов изотропны, начальная фаза результирующе-
го луча должна равняться нулю. Отсюда следует, что при разложении ин-
теграла на вещественную и мнимую части последняя должна исчезнуть,
тогда
τ
2
=exp(–2Bsin(θ)/λ)
2
, (4)
где В = 8π
2
ξ
2
.
Связь между теоретическими и экспериментальными значениями
структурных множителей интенсивности с учетом формулы (4) можно за-
писать:
kF
эксп
= F
теор
ехр(–2Bsin(θ)/λ), (5)
где k – коэффициент приведения к абсолютной шкале,
F
эксп
= I
эксп
/LP. (5*)
где I
эксп
– измеренная интенсивность отражения;
LP – угловые множители интенсивности.
F
теор
= ∑f
j
exp(2πi(hx
j
+ky
j
+lz
j
) (6)
В уравнении (5) содержатся два неизвестных множителя k и В. Если
определить интенсивность отражений от одной и той же кристаллографи-
ческой плоскости в первом и втором порядке отражений, то можно запи-
сать два уравнения и решить их как систему относительно k и В. В случае
мартенсита наиболее удобными являются отражения (110) и (220). В
соот-
ветствии с уравнением (5) получается система
kF
110эксп
= F
110теор
exp(–2Bsin(θ)/λ)
2
110
kF
220эксп
= F
220тeop
exp(–2Bsin(θ)/λ)
2
220
после логарифмирования получаем
ln (F
110эксп
F
220теор
/F
110теор
F
220эксп
) = B(
sin
2
θ
220
/λ
2
– sin
2
θ
110
/λ
2
),
отсюда cледует:
B = ln((F
110эксп
F
220теор
/F
110теор
F
220эксп
) / (
sin
2
θ
220
/λ
2
– sin
2
θ
110
/λ
2
). (7)

Страницы