ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
11
товления простейшего n-МОП транзистора с использованием планарной
технологии.
1. Выращивание тонкого подзатворного окисла в сухом кислороде (рис. 5).
2. Осаждение поликремния (рис. 6).
3. Формирование затворной маски с помощью фотолитографии (рис. 7).
4. Анизотропное травление поликремния (рис. 8) с последующим удале-
нием фоторезиста.
5. Ионное легирование примесью n-типа для создания истоковой, стоковой
области и легирования поликремния (рис. 9).
6. Диффузионная разгонка имплантированной примеси (рис. 10).
7. Нанесение защитных слоев SiO
2
, Si
3
N
4
и др. (рис. 11).
8. Формирование с помощью фотолитографии маски для контактных окон.
9. Вскрытие контактных окон и удаление фоторезиста (рис. 12).
10. Формирование контактов (рис. 13).
Рис. 5. Выращенный тонкий
подзатворный окисел.
Рис. 6. Структура с осажденным
поликремнием.
Рис. 7. Сформированная затворная
маска из фоторезиста.
Рис. 8. Формирование затвора анизо-
тропным травлением поликремния.
11
товления простейшего n-МОП транзистора с использованием планарной
технологии.
1. Выращивание тонкого подзатворного окисла в сухом кислороде (рис. 5).
2. Осаждение поликремния (рис. 6).
3. Формирование затворной маски с помощью фотолитографии (рис. 7).
4. Анизотропное травление поликремния (рис. 8) с последующим удале-
нием фоторезиста.
5. Ионное легирование примесью n-типа для создания истоковой, стоковой
области и легирования поликремния (рис. 9).
6. Диффузионная разгонка имплантированной примеси (рис. 10).
7. Нанесение защитных слоев SiO2, Si3N4 и др. (рис. 11).
8. Формирование с помощью фотолитографии маски для контактных окон.
9. Вскрытие контактных окон и удаление фоторезиста (рис. 12).
10. Формирование контактов (рис. 13).
Рис. 5. Выращенный тонкий Рис. 6. Структура с осажденным
подзатворный окисел. поликремнием.
Рис. 7. Сформированная затворная Рис. 8. Формирование затвора анизо-
маска из фоторезиста. тропным травлением поликремния.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 9
- 10
- 11
- 12
- 13
- …
- следующая ›
- последняя »
