ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
17
7. При имплантации ионами мышьяка разориентированной кремниевой
подложки рассчитать и построить семейство зависимостей координат точек
сопряжения экспоненциального “хвоста” с сопряженной гауссианой от дозы
имплантации в диапазоне 10
13
÷
5·10
16
см
-2
при энергиях 20, 40, 60, 80 и 100
кэВ .
8. Провести численные эксперименты по исследованию зависимости
нормирующего коэффициента при легировании разориентированной
пластины кремния ионами фосфора :
а) от дозы в диапазоне 10
13
÷
5·10
16
см
-2
при энергиях 20, 40, 80 и 120 кэВ ;
б) от энергии в диапазоне 10÷120 кэВ при дозах 10
13
, 10
14
, 10
15
и 10
16
см
-2
.
9. Провести численные эксперименты по исследованию зависимости
нормирующего коэффициента при легировании разориентированной
пластины кремния ионами бора :
а) от дозы в диапазоне 10
13
÷
5·10
16
см
-2
при энергиях 10, 50, 110 и 150 кэВ ;
б) от энергии в диапазоне 10÷150 кэВ при дозах 10
13
, 10
14
, 10
15
и 10
16
см
-2
.
11. Провести численный эксперимент по исследованию зависимости
максимальной концентрации от дозы имплантации в диапазоне
10
13
÷
5·10
16
см
-2
при внедрении бора с энергиями 40, 80 и 120 кэВ в
разориентированную кремниевую подложку .
Распределение бора описывается сопряженной гауссианой с учетом
эффекта каналирования и нормировки на дозу имплантации.
5. Распределение ионно-имплантированных примесей
в однородной разориентированной мишени в приближении
четырех параметров с учетом эффекта каналирования
При облучении разориентированной кристаллической мишени
моноэнергетическим пучком ионов с первоначальной энергией E
распределение концентрации N(x) по глубине x в приближении четырех
параметров описывается распределением Пирсон -4.
В этом случае распределение ионно-имплантированных примесей с
учетом эффекта каналирования запишется в виде
0
/
0
00
(),0,
()
()exp,.
Nx xR
Nx
xR
NR xR
λ
≤≤
=
−
⋅−>
График распределения ионно-имплантированных примесей в
разориентированной кристаллической мишени в приближении четырех
параметров с учетом эффекта каналирования представлен на рис.1.
Поскольку в данном случае аналитическое представление координаты
точки сопряжения R
0
затруднительно, то для ее определения может быть
предложен следующий алгоритм . Сначала расc читывается исходный
концентрационный профиль {N΄
i
,x
i
}
n
(n - число точек) в приближении
Пирсон-4 без учета эффекта каналирования . Максимальная глубина x
max
17 7. При имплантации ионам и м ы ш ьяка разориентированной крем ниевой под лож ки рассчитать и построить сем ейство зависимостей коорд инатточек сопряж ения экспоненциального “х воста” с сопряж енной гауссианой отд озы имплантации вд иапазоне1013 ÷ 5·1016 см -2 приэнергиях 20, 40, 60, 80 и 100 кэВ . 8. Провести численны е эксперим енты по исслед ованию зависим ости норм ирую щ его коэф ф ициента при легировании разориентированной пластины крем ния ионам иф осф ора: а) отд озы вд иапазоне1013 ÷ 5·1016 см -2 приэнергиях 20, 40, 80 и 120 кэВ ; б) отэнергии вд иапазоне10÷120 кэВ прид озах 1013, 1014, 1015 и 1016 см -2. 9. Провести численны е эксперим енты по исслед ованию зависим ости норм ирую щ его коэф ф ициента при легировании разориентированной пластины крем ния ионам ибора: а) отд озы вд иапазоне1013 ÷ 5·1016 см -2 приэнергиях 10, 50, 110 и 150 кэВ ; б) отэнергиивд иапазоне10÷150 кэВ при д озах 10 13, 1014 , 1015 и 1016 см -2. 11. Провести численны й эксперим ент по исслед ованию зависим ости м аксим альной концентрации от д озы имплантации в д иапазоне 10 ÷ 5·10 см при внед рении бора с энергиям и 40, 80 и 120 кэВ в 13 16 -2 разориентированную крем ниевую под лож ку. Распред еление бора описы вается сопряж енной гауссианой с учетом эф ф екта каналирования и норм ировки на д озуим плантации. 5. Р аспр е де л е н и е и о н н о -и м пл ан ти р о ван н ы х пр и м е се й в о дн о р о дн о й р аз о р и е н ти р о ван н о й м и ше н и в пр и бл и же н и и че ты р е х пар ам е тр о в с уче то м эффе кта кан ал и р о ван и я При облучении разориентированной кристаллической м иш ени м оноэнергетическим пучком ионов с первоначальной энергией E распред еление концентрации N(x) по глубине x в приближ ении четы рех парам етровописы вается распред елением Пирсон-4. В этом случае распред еление ионно-им плантированны х прим есей с учетом эф ф екта каналирования запиш ется ввид е N ( x), 0 ≤ x ≤ R0 , N ( x) = / x − R0 N ( R0 ) ⋅ exp − λ , x > R0 . Граф ик распред еления ионно-им плантированны х прим есей в разориентированной кристаллической м иш ени в приближ ении четы рех парам етровсучетом эф ф екта каналирования пред ставлен на рис.1. Поскольку в д анном случае аналитическое пред ставление коорд инаты точки сопряж ения R0 затруд нительно, то д ля ее опред еления м ож ет бы ть пред лож ен след ую щ ий алгоритм . Сначала расcчиты вается исх од ны й концентрационны й проф иль {N΄ i ,x i}n (n - число точек) в приближ ении Пирсон-4 без учета эф ф екта каналирования. М аксим альная глубина xmax
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 15
- 16
- 17
- 18
- 19
- …
- следующая ›
- последняя »