ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
4
1. Распределения ионно-имплантированных примесей
в однородных разориентированых мишенях
с учетом эффекта каналирования
При внедрении примесей в монокристаллические подложки реальные
профили распределения имеют в области глубин , бóльших чем нормальный
пробег , заметные отличия от гауссовских и Пирсон -4 распределений . Это
обусловлено такими причинами, как каналирование, междоузельная диффузия
внедренной примеси в процессе проведения ионного легирования и т. д . На
практике в большинстве случаев для повышения воспроизводимости
технологических процессов влияние этих эффектов стараются уменьшить .
В частности , каналирование существенно подавляется путем
дезориентации ионного пучка относительно кристаллографических осей с
малыми индексами или имплантацией через аморфный слой . Однако и в этом
случае концентрационный профиль в области отрицательного градиента имеет
экспоненциальный характер. Этот участок получил название
экспоненциального “хвоста” , а его наличие указывает на присутствие эффекта
каналирования (рис. 1).
Распределение ионно-имплантированных примесей в однородных
разориентированых монокристаллических мишенях с учетом эффекта
каналирования аппроксимируется в следующем виде:
>⋅
≤≤
=
′
−
−
, ,)(
,0 ),(
)(
00
0
0
RxeRN
RxxN
xN
Rx
λ
(1)
где N(x) - любое из известных распределений ; R
0
- координата точки
сопряжения заданного распределения с экспоненциальным “хвостом”, при этом
R
0
>R
m
(R
m
- координата точки максимума концентрации); λ - характерис-
тическая длина экспоненциального “хвоста”.
Анализ экспериментальных данных и численные расчеты показывают,
что в первом приближении величина λ не зависит от дозы и энергии
имплантации . Значение координаты R
0
зависит от дозы и энергии ионов и
может быть найдено из соотношения
)(
)(
0
*
RN
RN
F
m
′
′
= , (2)
которое существенно зависит только от дозы для заданной комбинации ион -
мишень. Значения λ и
F
*
для ионов бора, фосфора и мышьяка при их внедрении
в монокристаллический кремний приведены в таблице 1.
Анализ аппроксимирующего распределения (1) показывает, что доза
имплантации Q', определяемая несобственным интегралом
∫
∞
′
=
′
0
,)( dxxNQ
4 1. Р аспр е де л е н и я и о н н о -и м пл ан ти р о ван н ы х пр и м е се й в о дн о р о дн ы х р азо р и е н ти р о ван ы х м и ше н я х с уче то м эффе кта кан ал и р о ван и я При внед рении прим есей в м онокристаллические под лож ки реальны е проф или распред еления им ею т в области глубин, бó льш их чем норм альны й пробег, зам етны е отличия от гауссовских и Пирсон-4 распред елений. Э то обусловлено таким и причинам и, какканалирование, м еж д оузельная д иф ф узия внед ренной прим еси в процессе провед ения ионного легирования и т.д . Н а практике в больш инстве случаев д ля повы ш ения воспроизвод им ости тех нологических процессоввлияниеэтих эф ф ектовстараю тся ум еньш ить. В частности, каналирование сущ ественно под авляется путем д езориентации ионного пучка относительно кристаллограф ических осей с м алы м и инд ексам и или им плантацией через ам орф ны й слой. О д нако и в этом случае концентрационны й проф иль в области отрицательного град иента им еет экспоненциальны й х арактер. Э тот участок получил название экспоненциального “х воста”, а его наличие указы ваетна присутствие эф ф екта каналирования (рис. 1). Распред еление ионно-им плантированны х прим есей в од нород ны х разориентированы х м онокристаллических м иш енях с учетом эф ф екта каналирования аппроксим ируется вслед ую щ ем вид е: N ( x ), 0 ≤ x ≤ R0 , N ′( x ) = − x − R0 (1) N ( R0 ) ⋅ e λ , x > R0 , гд е N(x) - лю бое из известны х распред елений; R0 - коорд ината точки сопряж ения зад анного распред еления с экспоненциальны м “х востом”, при этом R0 >Rm (Rm - коорд ината точки м аксим ум а концентрации); λ - х арактерис- тическая д лина экспоненциального “х воста”. А нализ эксперим ентальны х д анны х и численны е расчеты показы ваю т, что в первом приближ ении величина λ не зависит от д озы и энергии им плантации. Значение коорд инаты R0 зависит от д озы и энергии ионов и м ож етбы тьнайд ено из соотнош ения N ′( Rm ) F* = , (2) N ′( R0 ) которое сущ ественно зависит только отд озы д ля зад анной ком бинации ион- м иш ень. Значения λ и F * д ля ионов бора, ф осф ора и м ы ш ьяка при их внед рении вм онокристаллический крем ний привед ены втаблице1. А нализ аппроксим ирую щ его распред еления (1) показы вает, что д оза им плантации Q', опред еляем ая несобственны м интегралом ∞ Q′ = ∫ N ′( x ) dx , 0
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6
- …
- следующая ›
- последняя »