Физические основы микроэлектроники. Базир Г.И. - 25 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

24
Если каждый из трех атомов находится на одной из трех кристаллографи-
ческих осей, то положение данной плоскости может быть задано соответст-
вующими координатами атомов по осям в единицах пос тоянной решетки.
Пусть атомы, определяющие плоскость, имеют координаты:
(3,0,0), (0,2,0), (0,0,2), тогда указанная плоскость может быть охарактеризована
тро йкой чисел: (3,2,2) (см. рис.7).
2
1
с
в 1 2
а a
1 β
2
Рис. 7.
Более широким методом описания положения плоскости являются индексы
Миллера:
1) Плоскость отсекает по осям отрезки: 3а, 2в, 2с.
2) Обратные числа равны с оответственно: 1/3, 1/2, 1/2.
3) Наименьшее кратное этих чисел 6: 2(1/3), 3(1/2), 3(1/2).
4) Отбросив цифру 6 в знаменателе, получим индексы Миллера плоскости:
(2 3 3) или в других обозначениях (hkl).
Набор индексов (hkl) может означать отдельную плоскость или
семейство
параллельных плоскостей. Если плоскость пересекает данную координатную
ось в бесконечности, то соответствующий индекс Миллера равен 0.
Для обозначения направлений в кристалле применяются индексы, пред-
ставляющие собой набор наименьших целых чисел, относящихся между собой
как компоненты вектора, параллельного данному направлению в соответст-
вующей системе координат.
Эти целые числа в случае направлений пишутся
в квадратных скобках:
[hkl]. В кубических кристаллах направление [hkl] всегда перпендикулярно к
плоскости (hkl), имеющей те же индексы, однако, для кристаллов других сис-
тем это, вообще говоря, не имеет места.
2.4. Дефекты кристаллической решетки
Под дефектом кристалла принято считать любое нарушение идеальной пе-
риодичности кристалла.
Дефекты подразделяют на точечные или нуль- мерные, линейные (одно-
мерные), поверхностные (двумерные) и объемные (трехмер ные).

Страницы