ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
2.6. Анализ двумерных структур
35
утверждать, что в задаваемом диапазоне изменения значений ,
сигнал
не обладает фрактальными признаками.
n
)3(
k
X
2.6. Анализ двумерных структур
Фрактальный анализ двумерных структур (изображений) в
настоящее время широко используется при проведении
оптических исследований. Очень часто изучаемая структура
представляет собой стохастическое распределение в задаваемой
плоскости интенсивности, амплитуды или фазы световых
колебаний. Будем, как и прежде, использовать для исследуемой
величины обозначение
. Разместим в рассматриваемой
плоскости систему координат
X
(
)
yx, . В трехмерном пространстве
распределение величины будет формировать некую
поверхность весьма сложной формы с многочисленными
случайно расположенными впадинами и возвышенностями.
Статистические характеристики этой поверхности могут быть
связаны с ее фрактальными свойствами с помощью двумерной
модели ОБД.
(
Xyx ,,
)
X
Зависимость
(
)
yxX ,
подчиняется модели ОБД, если
приращение
(
)
(
)
yxXyyxxXX ,, −
∆
+
∆
+
=
∆
(2.6.1)
имеет гауссовское распределение с нулевым математическим
ожиданием и додисперсией
H
yx
2222
)( ∆+∆σ , (
σ
– положи-
тельная константа), то есть:
du
yx
u
yx
sXP
s
H
∫
∞−
⎟
⎟
⎠
⎞
⎜
⎜
⎝
⎛
∆+∆σ
−
∆+∆πσ
=<∆
2222
2
222
)(2
exp
)(2
1
)(
. (2.6.2)
Если входящий в (2) параметр Херста
10
<
<
H , то
поверхность, характеризующая изменение величины
X
,
представляет собой случайный фрактал. При этом фрактальная
размерность
рассматриваемой поверхности, определенная
методом ее покрытия сферами или кубами (см. главу I), связана с
параметром Херста
H простым соотношением
D
HD
−
=
3 . (2.6.3)
2.6. Анализ двумерных структур утверждать, что в задаваемом диапазоне изменения значений n , (3) сигнал X k не обладает фрактальными признаками. 2.6. Анализ двумерных структур Фрактальный анализ двумерных структур (изображений) в настоящее время широко используется при проведении оптических исследований. Очень часто изучаемая структура представляет собой стохастическое распределение в задаваемой плоскости интенсивности, амплитуды или фазы световых колебаний. Будем, как и прежде, использовать для исследуемой величины обозначение X . Разместим в рассматриваемой плоскости систему координат (x, y ) . В трехмерном пространстве (x, y , X ) распределение величины X будет формировать некую поверхность весьма сложной формы с многочисленными случайно расположенными впадинами и возвышенностями. Статистические характеристики этой поверхности могут быть связаны с ее фрактальными свойствами с помощью двумерной модели ОБД. Зависимость X (x, y ) подчиняется модели ОБД, если приращение ∆ X = X (x + ∆ x , y + ∆ y ) − X (x , y ) (2.6.1) имеет гауссовское распределение с нулевым математическим ожиданием и додисперсией σ2 ( ∆x 2 + ∆y 2 )2H , ( σ – положи- тельная константа), то есть: 1 s ⎛ u2 ⎞ P ( ∆X < s ) = ∫ exp⎜⎜ − 2σ 2 (∆x 2 + ∆y 2 )2H ⎟⎟du . (2.6.2) 2πσ ( ∆x + ∆y ) 2 2 2 −∞ ⎝ ⎠ Если входящий в (2) параметр Херста 0 < H < 1 , то поверхность, характеризующая изменение величины X, представляет собой случайный фрактал. При этом фрактальная размерность D рассматриваемой поверхности, определенная методом ее покрытия сферами или кубами (см. главу I), связана с параметром Херста H простым соотношением D =3−H. (2.6.3) 35
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 33
- 34
- 35
- 36
- 37
- …
- следующая ›
- последняя »