Новационные методы анализа стохастических процессов и структур в оптике. Фрактальные и мультифрактальные методы, вейвлет-преобразования. Короленко П.В - 63 стр.

UptoLike

Рубрика: 

3.4. Мультифрактальная параметризация сигналов
63
а
б
в
Рис. 3.7. Модельные сигналы для мультифрактальной обработки: а
; б1=D 3,1
=
D ; в
π+=
200
2sin3,03,1
k
D
.
Это связано с тем, что соответствующая ему величина
варьируется в процессе генерации сигнала. Как уже отмечалось,
приведенная на
рис. 3.9 кривая определяет только ту половину
спектра сингулярностей, которая характеризуется
положительными значениями
, вторую половину, относящуюся
к отрицательным значениям
, можно получить, зеркально
отражая рассчитанную кривую относительно вертикальной оси,
проходящей через точку
D
q
q
65,0
=
h (см. пунктир на рис. 3.9).
                            3.4. Мультифрактальная параметризация сигналов



 а




 б




 в




  Рис. 3.7. Модельные сигналы для мультифрактальной обработки: а –
                                                    ⎛     k ⎞
          D = 1; б – D = 1,3 ; в – D = 1,3 + 0,3 sin⎜ 2π     ⎟.
                                                    ⎝    200 ⎠
Это связано с тем, что соответствующая ему величина D
варьируется в процессе генерации сигнала. Как уже отмечалось,
приведенная на рис. 3.9 кривая определяет только ту половину
спектра     сингулярностей,            которая           характеризуется
положительными значениями q , вторую половину, относящуюся
к отрицательным значениям q , можно получить, зеркально
отражая рассчитанную кривую относительно вертикальной оси,
проходящей через точку h = 0,65 (см. пунктир на рис. 3.9).
                                                                       63