Новационные методы анализа стохастических процессов и структур в оптике. Фрактальные и мультифрактальные методы, вейвлет-преобразования. Короленко П.В - 64 стр.

UptoLike

Рубрика: 

Глава 3. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МУЛЬТИФРАКТАЛЬНЫХ ПРЕДСТАВЛЕНИЙ
64
Рис. 3.8. Графики скейлинговой экспоненты
(
)
q
τ
для
сигналов (1),
Y
(2), (3).
k
X
k k
Z
Показанные на графике
(
)
hD ошибки вычислялись, исходя из
значений
, относящихся к различным реализациям
исследуемого сигнала. Рассмотренный метод
мультифрактального анализа используется также и для анализа
изображенийдвумерных световых структур. Действуя примерно
так, как при построении выражения (4), введем двумерную
()
hD
Рис. 3.9. Спектры сингулярностей сигналов
k
X
k k
Z
(1),
Y
(2), (3).
Глава 3. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МУЛЬТИФРАКТАЛЬНЫХ ПРЕДСТАВЛЕНИЙ




      Рис. 3.8. Графики скейлинговой экспоненты τ(q ) для
              сигналов X   k   (1), Y k (2), Z k (3).


Показанные на графике D(h ) ошибки вычислялись, исходя из
значений D(h ) , относящихся к различным реализациям
исследуемого         сигнала.      Рассмотренный        метод
мультифрактального анализа используется также и для анализа
изображений – двумерных световых структур. Действуя примерно
так, как при построении выражения (4), введем двумерную




               Рис. 3.9. Спектры сингулярностей сигналов
                         X k (1), Y k (2), Z k (3).




64