ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
вертикальной оси гониометра с соотношением скоростей
обрсч
υ
υ
2
=
. При этом
счетчик измеряет интенсивность дифракционной картины последовательно
под разными углами отражения. Показания счетчика регистрируются на
диаграммной ленте, которая движется синхронно с вращением счетчика. В
результате на ленте фиксируется кривая зависимости интенсивности
дифракционной картины от угла отражения - дифрактограмма.
Первичную информацию о состоянии вещества можно получить из внешнего
вида рентгеновских спектров. Хорошо окристаллизованный и однородный по
параметрам решетки материал дает узкие и высокие дифракционные пики (рис.9),
плохо окристаллизованный, неоднородный материал - широкие и низкие.
Типичная дифрактограмма поликристалла (рис. 9) представляет собой серию
пиков на плавной линии фона. Каждый пик является отражением
n
- го порядка от
серии плоскостей )(hkl с межплоскостным расстоянием
hkl
d
. Его положение на
рентгенограмме (угол
θ
) при регистрации рентгенограммы на излучении с длиной
волны
λ
определяется соотношением (1).
Отражения с близкими значениями
hkl
d
на рентгенограмме могут
накладываться, что затруднит ее расшифровку. Число возможных наложений
пропорционально количеству рефлексов и определяется фактором повторяемости.
Оно минимально в случае высокосимметричных кристаллов с небольшой ячейкой.
Следует иметь в виду, что рентгенограммы многофазных систем лучше
регистрировать в «мягком» излучении с большой длиной волны. При этом
достигается максимальное разрешение линий на рентгенограмме.
Рентгенограмма аморфного образца имеет характерный вид - это широкая
линия (галло) с угловой шириной
θ
2
= 10-20° (рис. 10). Возникают такие
Рис. 9. Фрагмент рентгенограммы поликристаллического образца
PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
вертикальной оси гониометра с соотношением скоростей υ сч = 2υ обр . При этом счетчик измеряет интенсивность дифракционной картины последовательно под разными углами отражения. Показания счетчика регистрируются на диаграммной ленте, которая движется синхронно с вращением счетчика. В результате на ленте фиксируется кривая зависимости интенсивности дифракционной картины от угла отражения - дифрактограмма. Первичную информацию о состоянии вещества можно получить из внешнего вида рентгеновских спектров. Хорошо окристаллизованный и однородный по параметрам решетки материал дает узкие и высокие дифракционные пики (рис.9), плохо окристаллизованный, неоднородный материал - широкие и низкие. Типичная дифрактограмма поликристалла (рис. 9) представляет собой серию пиков на плавной линии фона. Каждый пик является отражением n - го порядка от серии плоскостей (hkl ) с межплоскостным расстоянием d hkl . Его положение на рентгенограмме (угол θ ) при регистрации рентгенограммы на излучении с длиной волны λ определяется соотношением (1). Рис. 9. Фрагмент рентгенограммы поликристаллического образца Отражения с близкими значениями d hkl на рентгенограмме могут накладываться, что затруднит ее расшифровку. Число возможных наложений пропорционально количеству рефлексов и определяется фактором повторяемости. Оно минимально в случае высокосимметричных кристаллов с небольшой ячейкой. Следует иметь в виду, что рентгенограммы многофазных систем лучше регистрировать в «мягком» излучении с большой длиной волны. При этом достигается максимальное разрешение линий на рентгенограмме. Рентгенограмма аморфного образца имеет характерный вид - это широкая линия (галло) с угловой шириной 2θ = 10-20° (рис. 10). Возникают такие PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 17
- 18
- 19
- 20
- 21
- …
- следующая ›
- последняя »