Качественный рентгенофазовый анализ. Кузнецова Г.А. - 19 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

вертикальной оси гониометра с соотношением скоростей
обрсч
υ
υ
2
=
. При этом
счетчик измеряет интенсивность дифракционной картины последовательно
под разными углами отражения. Показания счетчика регистрируются на
диаграммной ленте, которая движется синхронно с вращением счетчика. В
результате на ленте фиксируется кривая зависимости интенсивности
дифракционной картины от угла отражения - дифрактограмма.
Первичную информацию о состоянии вещества можно получить из внешнего
вида рентгеновских спектров. Хорошо окристаллизованный и однородный по
параметрам решетки материал дает узкие и высокие дифракционные пики (рис.9),
плохо окристаллизованный, неоднородный материал - широкие и низкие.
Типичная дифрактограмма поликристалла (рис. 9) представляет собой серию
пиков на плавной линии фона. Каждый пик является отражением
n
- го порядка от
серии плоскостей )(hkl с межплоскостным расстоянием
hkl
d
. Его положение на
рентгенограмме (угол
θ
) при регистрации рентгенограммы на излучении с длиной
волны
λ
определяется соотношением (1).
Отражения с близкими значениями
hkl
d
на рентгенограмме могут
накладываться, что затруднит ее расшифровку. Число возможных наложений
пропорционально количеству рефлексов и определяется фактором повторяемости.
Оно минимально в случае высокосимметричных кристаллов с небольшой ячейкой.
Следует иметь в виду, что рентгенограммы многофазных систем лучше
регистрировать в «мягком» излучении с большой длиной волны. При этом
достигается максимальное разрешение линий на рентгенограмме.
Рентгенограмма аморфного образца имеет характерный вид - это широкая
линия (галло) с угловой шириной
θ
2
= 10-20° (рис. 10). Возникают такие
Рис. 9. Фрагмент рентгенограммы поликристаллического образца
PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
            вертикальной оси гониометра с соотношением скоростей υ сч = 2υ обр . При этом
            счетчик измеряет интенсивность дифракционной картины последовательно
            под разными углами отражения. Показания счетчика регистрируются            на
            диаграммной ленте, которая движется синхронно с вращением счетчика. В
            результате на ленте фиксируется кривая зависимости интенсивности
            дифракционной картины от угла отражения - дифрактограмма.
                 Первичную информацию о состоянии вещества можно получить из внешнего
            вида рентгеновских спектров. Хорошо окристаллизованный и однородный по
            параметрам решетки материал дает узкие и высокие дифракционные пики (рис.9),
            плохо окристаллизованный, неоднородный материал - широкие и низкие.
                 Типичная дифрактограмма поликристалла (рис. 9) представляет собой серию
            пиков на плавной линии фона. Каждый пик является отражением n - го порядка от
            серии плоскостей (hkl ) с межплоскостным расстоянием d hkl . Его положение на
            рентгенограмме (угол θ ) при регистрации рентгенограммы на излучении с длиной
            волны λ определяется соотношением (1).




                        Рис. 9. Фрагмент рентгенограммы поликристаллического образца


                Отражения с близкими значениями d hkl на рентгенограмме могут
            накладываться, что затруднит ее расшифровку. Число возможных наложений
            пропорционально количеству рефлексов и определяется фактором повторяемости.
            Оно минимально в случае высокосимметричных кристаллов с небольшой ячейкой.
                Следует иметь в виду, что рентгенограммы многофазных систем лучше
            регистрировать в «мягком» излучении с большой длиной волны. При этом
            достигается максимальное разрешение линий на рентгенограмме.
                Рентгенограмма аморфного образца имеет характерный вид - это широкая
            линия (галло) с угловой шириной 2θ = 10-20° (рис. 10). Возникают такие



PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com