Математическое моделирование и методы расчета оптических наноструктур. Ловецкий К.П - 71 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

РУДН | Москва

Составители: 

Рубрика: 

71
Выполнение законов поглощения и отражения обусловливает то, что
тангенциальные компоненты волновых векторов
,,
x y z
k k k k
c

совпадают на границах разделов слоев, и, таким образом, можно положить
0
y
k
. Рассмотрим этот случай более подробно [15].
Главные диэлектрические функции
,
xy

и
z
связаны с главными
осями эллипсоида диэлектрической проницаемости анизотропного
материала. Для моноклинных и триклинных систем можно всегда найти
главные значения в декартовой системе координат. Тем не менее такое
преобразование будет зависеть от
, а основные оси кристалла в общем
случае могут быть отличны от лабораторной системы координат. Углы
Эйлера
,

и
используются для вращения декартовой системы
координат с помощью выражения:
1
00
00
00
x
y
z
AA






, (4.8)
где матрица
A
является ортогональной матрицей вращения:
. (4.9)
Углы Эйлера описывают переход от лабораторной системы
координат к локальной системе координат кристалла. Заметим при этом,
что
симметричен, т.е.
ij ji

. Матрица коэффициентов
зависит от
диэлектрического тензора
и компоненты
x
k
волнового вектора
a
k
(
1 " ", 2 " ", 3 " "x y z
):

Страницы