Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 126 стр.

ностного барьера. В вакуум попадают только электроны,
летящие под углом меньшим, чем arsin[(Е—Ф)/Е]1/2. По-
этому выход для p-поляризации существенно выше, чем
для s. Эта классическая модель хороша при больших Е. В
случае малых энергий необходимо строгое квантовое рас-
смотрение.
   Количество вылетевших электронов пропорционально
коэффициенту пропускания N ~ τ = 1 – R (φf). Отношение
первичных фотоэлектронов к интенсивности прошедшего
излучения примерно пропорционально
    N         N       λ
       =             ~ ,
   I пр I (1 − R(ϕ )) l
где λ – глубина затухания для электронов; l – глубина за-
                                              1
тухания фотонов. Глубина затухания равна l = cos ϕ , где
                                              µ
µ – коэффициент поглощения. Поэтому число первичных
электронов пропорционально
   N ~ (1 – R) µ cos-1φ.
   Эксперименты по исследованию зависимости фотовы-
хода от угла падения показали, что при угле падения 75o
фотовыход уменьшается примерно в 1,5 раза. Кроме того,
несколько уменьшается число вторичных электронов

  Глава 3 ДРУГИЕ ПРИМЕНЕНИЯ СИНХРОТРОН-
НОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

   3.1. EXAFS-Спектроскопия
   EXAFS-спектроскопия как структурный метод, позво-
ляющий из спектров рентгеновского поглощения извле-
кать информацию о ближайшем окружении поглощающих
атомов, возникла сравнительно недавно, хотя в основе ее
лежит явление, известное уже более полувека. Структура
EXAFS (extended X-ray absorption fine structure) — дальняя

                         - 125 -