ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
13
1.2 Техника измерений атомно-силовой микроскопии
Получение АСМ изображений рельефа поверхности связано с
регистрацией малых изгибов упругой консоли зондового датчика. В
атомно-силовой микроскопии для этой цели широко используются
оптические методы (рис. 1.4).
Оптическая система АСМ юстируется таким образом, чтобы
излучение полупроводникового лазера фокусировалось на консоли
зондового датчика, а отраженный пучок попадал в центр
фоточувствительной области фотоприемника [1]. В качестве позиционно
чувствительных фотоприемников применяются четырехсекционные
полупроводниковые фотодиоды. Основные регистрируемые оптической
системой параметры - это деформации изгиба консоли под действием Z-
компонент сил притяжения или отталкивания (F
Z
) и деформации кручения
консоли под действием латеральных компонент сил (F
L
) взаимодействия
зонда с поверхностью. Если обозначить исходные значения фототока в
секциях фотодиода через I
oi
, I
02
, I
03
, I
04
,а через Ii, I
2
, I
3
, I
4
- значения токов
после изменения положения консоли, то разностные токи с различных
секций фотодиода будут однозначно характеризовать величину и
направление изгиба консоли зондового датчика АСМ.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 11
- 12
- 13
- 14
- 15
- …
- следующая ›
- последняя »
