Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 15 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

исполнительного элемента, который поддерживает изгиб консоли DZ

равным величине задаваемой оператором.

При сканировании образца в режиме DZ = const зонд перемещается

вдоль поверхности, при этом напряжение на Z-электроде сканера

записывается в память компьютера в качестве рельефа поверхности

Z=f(x,y). Пространственное разрешение АСМ определяется радиусом

закругления зонда и чувствительностью системы, регистрирующей

отклонения консоли. В настоящее время реализованы конструкции АСМ,

позволяющие получать атомарное разрешение при исследовании

поверхности образцов. Разрешение скана образца зависит не только от

радиуса закругления зонда, но и от шероховатости поверхности. Именно

поэтому при исследовании биологических объектов шероховатость

подложки должна быть меньше структурных особенностей исследуемых

объектов [1].

Рис. 1.6. Упрощенная схема организации обратной связи в атомно-силовом микроскопе

[1]