Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 18 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

Рис. 1.9. Электронно-микроскопическое изображение АСМ зонда,

расположенного на прямоугольной консоли [2].

На рис. 1.9. показаны электронно-микроскопические изображения

выпускаемых серийно зондовых датчиков NSG11 с консолью

прямоугольного сечения компании НТ-МДТ [2]. Иногда зондовые датчики

АСМ имеют несколько кантилеверов различной длины (а значит, и

различной жесткости) на одном основании. В этом случае выбор рабочей

консоли осуществляется соответствующей юстировкой оптической

системы атомно-силового микроскопа.

Зондовые датчики с треугольным кантилевером имеют при тех же

размерах большую жесткость и, следовательно, более высокие