Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 19 стр.

UptoLike

19
резонансные частоты. Чаще всего они применяются в колебательных АСМ
методиках.
Рис. 1.10. Электронно-микроскопическое изображение АСМ зонда,
расположенного на треугольном кантилевере (сверху) [2] и модельное изображение
взаимодействия атомов зонда с атомами поверхности (снизу).
Общий вид и габариты зондовых датчиков с треугольной консолью
представлены на рис. 1.10. Изготовление зондовых датчиков для АСМ
представляет собой достаточно сложный технологический процесс,