ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
42
очень низким средним атомным номером, то для получения максимальной
информации с поверхности образца следует работать с небольшим
ускоряющим напряжением. Если образец склонен заряжаться или если
следует опасаться повреждений образца лучом, также необходимо
уменьшить зондовый ток и ускоряющее напряжение. Если же исследуются
образцы, которые имеют высокое среднее порядковое число и хорошую
проводимость, то можно работать со значительно большими значениями
ускоряющего напряжения и зондового тока.
Поскольку связи между отдельными управляющими параметрами и
типом образца или характером поставленной задачи слишком сложные,
нет общих правил настройки этих параметров. Более того, решающее
значение здесь имеют накопленные экспериментальные данные и опыт
работы.
Метод сканирующей электронной микроскопии позволил дать
исчерпывающую информацию о морфологии и кинетике эволюции
электроосаждённых металлов. Примерами, раскрывающими возможности
метода сканирующей электронной микроскопии при исследовании
электроосаждённых металлов, могут служить полученные на
электронномикроскопические изображения микрокристаллов меди,
представленные на рисунке 2.2.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 40
- 41
- 42
- 43
- 44
- …
- следующая ›
- последняя »
