Определение параметров элементарной ячейки кристаллов. Панова Т.В - 6 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ОмГУ | Омск

Составители: 

Рубрика: 

11
3. С помощью программы ORIGIN или FPEAK построить ди-
фрактограммы для обоих образцов, сохранив их с соответствующим
расширением.
4. Пользуясь таблицами приложения [5] или программой
PowderCell провести индицирование всех дифракционных пиков,
присутствующих в спектрах.
5. Рассчитать межплоскостное расстояние для той длины волны
рентгеновского излучения, которая была использована при съемке.
6. Рассчитать параметры элементарной ячейки,
используя
квадратичные зависимости (табл., с. 4). Использовать пики, находя-
щиеся в прецизионной области или наиболее приближенные к ней.
Для гексагональной сингонии для расчета использовать пару ди-
фракционных пиков с разными индексами Миллера. В этом случае
расчет производить по формулам, получаемым из квадратичных
зависимостей:
;
LKH
d
B
LKH
d
B
BABA
a
2
222
1
2
111
2
1221
2
3
4
−
−
=
2
111
2
2
222
1
1221
2
LKH
d
A
LKH
d
A
BABA
c
−
−
=
,
где А = H
2
+ HK + K
2
и B = L
2
.
7. Провести аппроксимацию периода решетки а для ионных
кристаллов с кубической сингонией, путем подбора соответствую-
щей функции с помощью любого графического редактора (Origin
или Excel). При этом расчет параметра а произвести для всех пиков,
относящихся к кубической сингонии. Построение проводить в по-
следовательности (а от cos
2
θ
) и т. д. Перебор функций производить
до тех пор, пока не будет достигнуто максимальное приближение к
линейной зависимости. После подбора функции определить пара-
метр а при угле 90
0
.
8. Рассчитать погрешности измерений.
9. Произвести уточнение параметров элементарной ячейки ме-
тодом наименьших квадратов с помощью программы UnitCell. За-
пуск программы осуществляется при загрузке файла UnitCell.exe.
Для расчета предварительно создать файл с расширением .dat или
.txt (пример созданием такого файла приведен в описании програм-
мы readme.txt).
10. Сравнить полученные данные с данными, рассчитанными
без уточнения
.
12
КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
1. Какие характеристики дифрактограммы необходимо брать
для расчета параметра решетки?
2. Как определяется угол при дифрактометрической регистра-
ции спектра?
3. Какие существуют методики определения параметров эле-
ментарной ячейки?
4. Как учесть систематические и физические погрешности?
5. Каковы возможности программы UnitCell?
СПИСОК РЕКОМЕНДУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
1. Русаков А.А. Рентгенография металлов
: Учебник для вузов.
М.: Атомиздат, 1977. 480 с.
2. Миркин Л.И. Рентгеноструктурный контроль машинострои-
тельных материалов: Справочник. М.: Изд-во МГУ, 1976. 140 с.
3. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анали-
зу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961. 863 с.
4. Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н.
Кристаллография, рентгенография
и электронная микроскопия. М.:
Металлургия, 1982. 632 с.
5. Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгеногра-
фический и электроннооптический анализ. Приложения. М: Метал-
лургия, 1970. 107 с.
Технический редактор Н.В. Москвичёва
Редактор Е.В. Коськина
Подписано в печать 12.07.04. Формат бумаги 60х84 1/16.
Печ. л. 0,8. Усл.-печ. л. 0,8. Уч.-изд. л. 0,7. Тираж 50 экз. Заказ 377.
Издательско-полиграфический отдел ОмГУ
644077, г. Омск-77, пр. Мира, 55а, госуниверситет
      3. С помощью программы ORIGIN или FPEAK построить ди-                                             КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
фрактограммы для обоих образцов, сохранив их с соответствующим
                                                                                      1. Какие характеристики дифрактограммы необходимо брать
расширением.
                                                                                для расчета параметра решетки?
      4. Пользуясь таблицами приложения [5] или программой
                                                                                      2. Как определяется угол при дифрактометрической регистра-
PowderCell провести индицирование всех дифракционных пиков,
                                                                                ции спектра?
присутствующих в спектрах.
                                                                                      3. Какие существуют методики определения параметров эле-
      5. Рассчитать межплоскостное расстояние для той длины волны
                                                                                ментарной ячейки?
рентгеновского излучения, которая была использована при съемке.
                                                                                      4. Как учесть систематические и физические погрешности?
      6. Рассчитать параметры элементарной ячейки, используя
                                                                                      5. Каковы возможности программы UnitCell?
квадратичные зависимости (табл., с. 4). Использовать пики, находя-
щиеся в прецизионной области или наиболее приближенные к ней.
                                                                                           СПИСОК РЕКОМЕНДУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
Для гексагональной сингонии для расчета использовать пару ди-
фракционных пиков с разными индексами Миллера. В этом случае                          1. Русаков А.А. Рентгенография металлов: Учебник для вузов.
расчет производить по формулам, получаемым из квадратичных                      М.: Атомиздат, 1977. 480 с.
зависимостей:                                                                         2. Миркин Л.И. Рентгеноструктурный контроль машинострои-
              4         A1 B2 − A2 B1                     A1B2 − A2 B1          тельных материалов: Справочник. М.: Изд-во МГУ, 1976. 140 с.
       a2 =                                  ; c2 =                         ,
              3      B2              B1                 A1             A2             3. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анали-
                             −                                  −
                  d2            d2                  d2            d2            зу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961. 863 с.
                   H1 K1L1        H 2 K 2 L2         H 2 K 2 L2     H1K1 L1           4. Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н.
где А = H2 + HK + K2 и B = L2.                                                  Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.:
       7. Провести аппроксимацию периода решетки а для ионных                   Металлургия, 1982. 632 с.
кристаллов с кубической сингонией, путем подбора соответствую-                        5. Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгеногра-
щей функции с помощью любого графического редактора (Origin                     фический и электроннооптический анализ. Приложения. М: Метал-
или Excel). При этом расчет параметра а произвести для всех пиков,              лургия, 1970. 107 с.
относящихся к кубической сингонии. Построение проводить в по-
следовательности (а от cos2 θ) и т. д. Перебор функций производить
до тех пор, пока не будет достигнуто максимальное приближение к
линейной зависимости. После подбора функции определить пара-
метр а при угле 900.
       8. Рассчитать погрешности измерений.
       9. Произвести уточнение параметров элементарной ячейки ме-
тодом наименьших квадратов с помощью программы UnitCell. За-
пуск программы осуществляется при загрузке файла UnitCell.exe.                                          Технический редактор Н.В. Москвичёва
Для расчета предварительно создать файл с расширением .dat или                                                  Редактор Е.В. Коськина
.txt (пример созданием такого файла приведен в описании програм-
мы readme.txt).                                                                               Подписано в печать 12.07.04. Формат бумаги 60х84 1/16.
                                                                                         Печ. л. 0,8. Усл.-печ. л. 0,8. Уч.-изд. л. 0,7. Тираж 50 экз. Заказ 377.
      10. Сравнить полученные данные с данными, рассчитанными
                                                                                Издательско-полиграфический отдел ОмГУ
без уточнения.                                                                  644077, г. Омск-77, пр. Мира, 55а, госуниверситет

                                         11                                                                                 12

Страницы