Преломление и отражение рентгеновского излучения. Павлинский Г.В. - 29 стр.

                  Отражения, заданные выражением (48), идентичны максимумам
             Киссига, определяемым формулой (42а), в которой n равно числу N
             двойных слоев многослойной структуры. Так, например, если число
             двойных слоев равно 15, то максимум отражения Вульфа - Брэггов в 1-
             ом порядке совпадает с 15-м максимумом Киссига, во 2-ом порядке с
             30-м максимумом Киссига и т.д. Интенсивность максимума Вульфа-
             Брэггов    примерно      на    порядок   больше    интенсивности
             соответствующего максимума Киссига и обычно уменьшается с
             увеличением порядка отражения.

                                        5.2. Поля стоячих волн

                      Интерференция, рассмотренная в предыдущем разделе,
             предполагает распространение двух и более пучков в одном
             направлении. Однако, интерферировать могут также пучки,
             направления которых не совпадают. Если область наложения пучков
             велика, то наблюдается некоторое волновое поле с результирующими
             волнами, которые могут оказаться стационарными. В этом случае они
             называются стоячими волнами с локально устойчивой амплитудой.
             Локальные минимумы стоячих волн называются узлами, а локальные
             максимумы – антиузлами.
                      Наиболее простым случаем получения стоячих волн является
             суперпозиция широкой падающей и широкой отраженной волны. Для
             рентгеновского излучения стоячие волны могут, например, возникнуть
             при его полном внешнем отражении от поверхности. Поле стоячих
             волн ограничивается здесь в продольном сечении треугольником,
             образованном поверхностью и фронтами падающей и отраженной
             волн.
                      Теоретический расчет интенсивности стоячих волн, равно как и
             отношения интенсивности падающего и отраженного излучения,
             может быть осуществлен на основе соотношений Френеля в рамках
             матричного формализма, предложенного Абелем [16] и достаточно
             полно рассмотренного в работах [Ошибка! Закладка не
             определена.,17]. Матричный подход распространяется на случаи
             отражающей поверхности, слоя на подложке и многослойных
             структур. Рассмотрим простейший случай отражающей поверхности.
                      Рассматривая соотношение амплитуд, нормируем амплитуду
             плоской падающей волны к единице. Отраженная волна под
             поверхностью материала отсутствует. Поэтому гипотетическую ее
             амплитуду примем равной нулю. Пусть амплитуда отраженной волны
             E 0ν , а амплитуда преломленной волны E si . Тогда эти четыре амплитуды
             связаны Борновской матрицей или матрицей переноса:


                                                                                   29

PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com