ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
54
Рисунок 3.11
Рассмотрим работу на постоянном токе биполярного диффузионного
сплавного транзистора p-n-p структуры, включенного по схеме с ОБ в активном
режиме. При создании транзисторов обязательно выполнение следующих
условий:
- концентрация основных носителей базы должна быть много меньше
концентрации основных носителей эмиттера;
- ширина базы не должна превышать диффузионную длину заряженных
частиц (ω ≤ Lp).
В активном режиме эмиттерный переход (ЭП) включен в прямом
направлении за счет включения постоянного источника питания U
эб
, величина
которого имеет небольшое значение (близкое к высоте потенциального барьера,
т.е. доли вольт), а коллекторный переход (КП) – в обратном за счет включения
источника U
кб
, величина которого на порядок превышает U
эб
и ограничивается
напряжением пробоя коллекторного перехода. Следовательно, выполняется
соотношение: R
эб
<<R
бк
, что позволяет включить в коллекторную цепь
значительно большее сопротивление, чем в эмиттерную, т.е. R
вых
>>R
вх
.
Дырки из эмиттера инжектируются в базу и диффундируют к
коллекторному переходу. В базе созданы условия для минимальной
рекомбинации инжектированных дырок с электронами базы, поскольку ширина
базы значительно меньше диффузионной длины основных носителей. Кроме
того, уровень легирования базы значительно ниже уровней легирования
эмиттера и коллектора, т.е. концентрация электронов в базе меньше в
концентрации дырок в эмиттере и коллекторе. По этим причинам, практически,
все инжектированные в базу дырки доходят до коллектора, и поле
коллекторного перехода втягивает (экстрагирует) их в коллектор.
Наряду с основными носителями заряда через эмиттерный и
коллекторный переходы движутся и неосновные для каждой из областей
транзистора носители. Движение неосновных носителей существенно влияет на
работу транзистора и зависит от материала полупроводника и температуры
(тепловая генерация).
Рисунок 3.11
Рассмотрим работу на постоянном токе биполярного диффузионного
сплавного транзистора p-n-p структуры, включенного по схеме с ОБ в активном
режиме. При создании транзисторов обязательно выполнение следующих
условий:
- концентрация основных носителей базы должна быть много меньше
концентрации основных носителей эмиттера;
- ширина базы не должна превышать диффузионную длину заряженных
частиц (ω ≤ Lp).
В активном режиме эмиттерный переход (ЭП) включен в прямом
направлении за счет включения постоянного источника питания Uэб, величина
которого имеет небольшое значение (близкое к высоте потенциального барьера,
т.е. доли вольт), а коллекторный переход (КП) – в обратном за счет включения
источника Uкб, величина которого на порядок превышает Uэб и ограничивается
напряжением пробоя коллекторного перехода. Следовательно, выполняется
соотношение: Rэб<>Rвх.
Дырки из эмиттера инжектируются в базу и диффундируют к
коллекторному переходу. В базе созданы условия для минимальной
рекомбинации инжектированных дырок с электронами базы, поскольку ширина
базы значительно меньше диффузионной длины основных носителей. Кроме
того, уровень легирования базы значительно ниже уровней легирования
эмиттера и коллектора, т.е. концентрация электронов в базе меньше в
концентрации дырок в эмиттере и коллекторе. По этим причинам, практически,
все инжектированные в базу дырки доходят до коллектора, и поле
коллекторного перехода втягивает (экстрагирует) их в коллектор.
Наряду с основными носителями заряда через эмиттерный и
коллекторный переходы движутся и неосновные для каждой из областей
транзистора носители. Движение неосновных носителей существенно влияет на
работу транзистора и зависит от материала полупроводника и температуры
(тепловая генерация).
54
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 30
- 31
- 32
- 33
- 34
- …
- следующая ›
- последняя »
