Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 21 стр.

UptoLike

( )
( )
( )
λ ηcosηcos
λψcosψcos
λcoscos
0
0
0
l=c
k=b
h=a
φφ
. (19)
Полученные соотношения есть условия Лауэ для интерференции
в скалярном виде. Косинусы углов
( )
000
ηψ ,,
φ
определяют
направления первичных углов, а косинусы углов
( )
ηψ,,
φ
-
направление рассеянного излучения. Три числа h, k, l определяют
порядок дифракционных спектров и называются индексами
интерференции. Эти индексы тесно связаны с соответствующими
индексами h, k, l атомных плоскостей в кристалле.
4. СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР РАССЕЯНИЯ
Уравнения (14) определяют все возможные отражения для
данной кристаллической решетки. Эти отражения можно описать с
помощью узлов обратной решетки, задаваемых векторами обратной
решетки
( )
lc+kb+ha=hklG
, и обозначить отражения как (hkl).
Интенсивности различных отражений зависят от состава элементарной
ячейки, т. е. от числа и расположения атомов в ячейке и от
распределения их электронной плотности. Рассмотрим этот вопрос
подробнее.
Допустим, что каждая ячейка состоит из s атомов и положение
ядра j-го атома ячейки (Рис. 14) определяется вектором
cz+by+ax=
jjjj
ρ
, (20)
который проведен из узла решетки
pc+nb+ma=
mnp
ρ
. (21)
21