Методы и алгоритмы решения задач в моделях оптических покрытий. Севастьянов Л.А - 110 стр.

UptoLike

Рубрика: 

110
Рис. 20. Угловая зависимость модуля напряженности поля для
фазовой дифракционной решетки.
Итак, нами рассмотрены все возможные типы тонких одномерных
дифракционных решеток. Нетрудно заметить, что дифракционный
интеграл Фраунгофера (6.32) (6.34), описывающий изменения, которые
претерпевает плоская электромагнитная волна, проходящая через эти
решетки, имеет вид интеграла Фурье. Это совпадение не случайно.
Существует альтернативный способ отыскания дифракционного поля
решетки, основанный на разложение этого поля в спектр плоских волн,
источником которых является рассматриваемая решетка. Подробнее этот
метод будет описан в другом разделе курса.
Все приведенные выше рассуждения проводились в предположении,
что толщина дифракционной решетки пренебрежимо мала по сравнению с
ее периодом и, уж тем более, с расстоянием до точки наблюдения. Однако
существует широкий класс периодических структур, для которых это
предположение не имеет смысла. В качестве примера можно привести
периодическую структуру, образованную системой чередующихся тонких
слоев различных диэлектриков. Для анализа электродинамических свойств