ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
103
Кнопочное управление на лицевой панели:
Сеть
Быстро вперед. Каретка быстро двигается влево, одновременно
происходит прогон волнового числа.
Быстро назад. Каретка быстро двигается вправо.
Регистрация с автоматическим возвратом каретки.
Пуск. Начало записи спектра.
Стоп. Регистрирующее устройство останавливается.
Источник излучения.
Требования к отчету
Отчет должен содержать:
1. Титульный лист;
2. Цель работы;
3. Краткие сведения о методах определения толщин тонких пленок
4. Результаты выполнения заданий в виде таблиц;
5. Выводы по работе.
Лабораторное задание
Домашняя работа:
1. Ознакомиться с описанием лабораторной работы.
2. Подготовить 1 экземпляр формы таблицы 1.
Форма таблицы 1
№
образца
Пропускание T, % Оптическая
плотность D
Толщина
пленки d,
мкм
1.
2.
3. Выполнить пункты 1-4 требований к отчету.
4. Изучить теоретические сведения.
5. Подготовиться к ответам на контрольные вопросы.
Работа в лаборатории:
1. Получить у преподавателя образцы пленок.
2. Определить толщину пленок SiO
2
методом цветовых оттенком Ньютона.
3. Определить толщины металлических и оксидных пленок металла на
прозрачной подложке, используя оптический метод. Для выполнения данного
пункта задания использовать пленки, полученные методом 3-х электродного
распыления в лабораторной работе 4.
4. Определить глубину залегания p-n перехода в кремниевой подложке.
5. Оформить результаты выполнения пунктов 2 и 4 в произвольной форме,
результаты выполнения пункта 3 в виде таблицы (Форма 1).
Порядок выполнения работы
1. Ознакомьтесь с выданными пленочными образцами на подложках.
2. Используя таблицу цветовых оттенков Ньютона, определите толщину
пленки SiO
2
, зарисуйте интерференционные кольца.
3. Ознакомьтесь с порядком работы на приборе Specord UV-VIS.
~
Кнопочное управление на лицевой панели:
~ Сеть
Быстро вперед. Каретка быстро двигается влево, одновременно
происходит прогон волнового числа.
Быстро назад. Каретка быстро двигается вправо.
Регистрация с автоматическим возвратом каретки.
Пуск. Начало записи спектра.
Стоп. Регистрирующее устройство останавливается.
Источник излучения.
Требования к отчету
Отчет должен содержать:
1. Титульный лист;
2. Цель работы;
3. Краткие сведения о методах определения толщин тонких пленок
4. Результаты выполнения заданий в виде таблиц;
5. Выводы по работе.
Лабораторное задание
Домашняя работа:
1. Ознакомиться с описанием лабораторной работы.
2. Подготовить 1 экземпляр формы таблицы 1.
Форма таблицы 1
№ Пропускание T, % Оптическая Толщина
образца плотность D пленки d,
мкм
1.
2.
3. Выполнить пункты 1-4 требований к отчету.
4. Изучить теоретические сведения.
5. Подготовиться к ответам на контрольные вопросы.
Работа в лаборатории:
1. Получить у преподавателя образцы пленок.
2. Определить толщину пленок SiO2 методом цветовых оттенком Ньютона.
3. Определить толщины металлических и оксидных пленок металла на
прозрачной подложке, используя оптический метод. Для выполнения данного
пункта задания использовать пленки, полученные методом 3-х электродного
распыления в лабораторной работе 4.
4. Определить глубину залегания p-n перехода в кремниевой подложке.
5. Оформить результаты выполнения пунктов 2 и 4 в произвольной форме,
результаты выполнения пункта 3 в виде таблицы (Форма 1).
Порядок выполнения работы
1. Ознакомьтесь с выданными пленочными образцами на подложках.
2. Используя таблицу цветовых оттенков Ньютона, определите толщину
пленки SiO2, зарисуйте интерференционные кольца.
3. Ознакомьтесь с порядком работы на приборе Specord UV-VIS.
103
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 101
- 102
- 103
- 104
- 105
- …
- следующая ›
- последняя »
