Защита электронных средств от механических воздействий. Теоретические основы. Талицкий Е.Н. - 93 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВлГУ | Владимир

Составители: 

Рубрика: 

,
2
2
m
D
a
f
i
oi
π
α
=
но так как все параметры в этой формуле, кроме α, не изменяются, полу-
чим
2
672
2.651
14
i
η>>
⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
−
или
.24.0
2
i
η>>
КМП ячеек, даже с ПД, как правило не превышает 0,3. Поэтому условие
(3.61) в большинстве случаев выполняется. Это дает возможность приме-
нить спектральный метод, по крайней мере, в диапазоне 2000 Гц.
Т а б л и ц а 3.7
m
1
m
2
α
m
1
m
2
α
ж.з. св.оп. ж.з. св.оп.
1 1 95,2 49,3 3 1 155,5 366,3
1 2 161,6 79,2 3 2 173,2 396,0
1 3 323,2 129,7 3 3 207,4 445,5
1 4 651,2 197,2 3 4 251,2 514,8
2 1 672 168,3 4 1 420,3 643,5
2 2 825,6 197,2 4 2 449,0 673,2
2 3 1130 246,5 4 3 548,0 722,7
2 4 1658 316,8 4 4 580,8 792,0
Применение спектрального метода к конструкциям типа балок под-
робно рассмотрено в работе [13]. Применим его к анализу конструкций
типа пластин.
Среднеквадратическое отклонение точки пластины, имеющей коор-
динаты x, y, находится по формуле
,)(),(),(
0
2
2
∫
∞
ωωω=ν
dSiФ
y
x
где
)(ω
S
– спектральная плотность возмущающих колебаний.
Учитывая (3.56) и принимая во внимание
93

Страницы