Составители:
Рубрика:
взаимодействуют с кристаллом и пронизывают его на большую глуби-
ну. Законы их дифракции определяются
пространственным строени-
ем
кристалла. Электроны же проникают на малую глубину и потому
незаменимы для исследования
структуры поверхности.
В разделе 2.2 пособия [
4] Вы можете ознакомиться с законами ди-
фракции излучения на плоской дифракционной решетке. Это – одно-
мерный случай, чередование отражающих полосок задано только в
одном направлении. Для рассмотрения дифракции на кристалле приме-
нимы все те же соображения и такой же подсчет фазовых сдвигов меж-
ду различными компонентами рассеянной волны, только решетка уже
не одно- а трехмерная.
5.2.3.1 Излучения, используемые для дифракционных исследова-
ний
Для наблюдения дифракционной картины длина волны и постоян-
ная решетки должны быть соизмеримы и в этом случае, λ ≤ 2
d где d –
шаг решетки. Постоянные решеток кристаллов химических элементов
лежат в диапазоне 0,2–0,6 нм. Длины волн излучений связаны с их энер-
гией. Если в соответствующие соотношения подставить необходимые
константы, получим зависимости:
для рентгеновского излучения:
1239 81
(нм)
,
()
h
h.b
ν
λ≈
ν
для электронов
эл
12
(нм)
эВ)
,
(E
λ≈
(5.2.8)
для нейтронов
нейтр
0028
(нм)
эВ)
,
(E
λ≈
Длину волны 1 нм имеют:
– рентгеновское излучение с энергией фотона 1240 эВ;
– электроны с энергией 1,44 эВ;
– нейтроны с энергией около 0,8 мэВ.
Электроны и нейтроны с тепловыми энергиями (при комнатной
температуре kT ≈ 25 мэВ) имеют длины волн 76 нм и 0,18 нм.
5.2.3.2 Дифракция волн
Предположим, что:
1.
Волна проникает "очень глубоко" в кристалл,
29
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 27
- 28
- 29
- 30
- 31
- …
- следующая ›
- последняя »
