Физические основы микроэлектроники. Базир Г.И. - 11 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

10
среду. И, следовательно, в таком случае связь между волнами и частицами мо-
жет быть истолкована статистически (вероятностно): квадрат амплитуды волны
в этом месте, измеряющий ее интенсивность, ес ть мера вероятности найти час-
тицу в этом месте.
Таким образом если мы условимся подобным образом толковать волны де
Бройля, то можно сохранить и волновые
пакеты в качестве удобного метода
рассуждения.
1.4.Соотношение неопределенностей.
Рассмотрим простой пример, дифракцию одной микрочастицы на некото-
ром отверстии шириной Δx (см. рис. 1). Это справедливо, поскольку волновые
свойства присущи каждой отдельной микрочастице.
Рис.1. Дифракция частицы на отверстии.
Но дифракция означает, что у частицы, имеющей до прохождения отвер-
стия импульс Р
0
(на рисунке он направлен вдоль оси у: р
о
= р
у
, р
х
= 0), после
прохождения отверстия шириной Δx возможен разброс в направлении движе-
ния, т. е. появляется неопределеннос ть ΔР
x
, в значении проекции импульса Р на
ось Х.
Следовательно, наличие волновых свойств у микрочастиц приводит к не-
возможности одновременно точ но указать значения координаты x и проекции
импульса Р
x
, относящиеся к моменту прохождения частицы через отверстие.
Задавая в нашем случае неопределеннос ть ΔР
x
размерами первого дифрак-
ционного максимума (для первого минимума при дифракции на отверстии sin β
= λ/Δx) и учитывая, что р = h/λ, можно получить для ΔР
x
следующее выраже-
ние:
x
pppp
xx
Δ
⋅⋅=⋅⋅=⋅=Δ
λ
β
2sin22 . (15)
β
β
Po
P
O
Δ
x
x
y

Страницы