Физико-химические основы электронно-вычислительных средств. Филатов Б.Г - 17 стр.

UptoLike

17
вых вых
1
1
,
n
iij
j
qq
n
=
=
(2.5)
где
вых
1
n
ij
j
q
=
– сумма выходных параметров i-й строки, j-го столбца;
выхi
q
– усредненное значение выходного параметра для параллельных опытов;
n – число дублирования опытов, т. е. n = 4.
2. Расчет построчных дисперсий удельного сопротивления резистив-
ной пленки производится по формуле
()
2
вых вых
1
2
,
1
n
ij i
j
i
qq
S
n
=
=
(2.6)
где
2
i
S
– построчная дисперсия параллельных опытов; q
выхij
– выходной
параметр i-строки и j-столбца.
3. Проверка однородности построчных дисперсий по критерию Фи-
шера.
Исходя из полученных построчных дисперсий определяем расчет-
ное значение критерия Фишера по формуле
22
pmax
min
/,
ii
FS S
=
(2.7)
где
2
maxi
S
,
2
mini
S
– максимальная и минимальная построчные дисперсии.
Расчетное значение критерия
p
F
сравнивается с табличным
т
F
(табл. 2.1).
f
1
f
2
123456
14,4615,9917,5126,4222,0320,432
25,812,912,913,913,913,91
31,016,93,91,90,99,8
47,79,66,64,63,62,6
56,68,54,52,51,50,5
60,61,58,45,44,43,4
Таблица 2.1