ВУЗ:
Составители:
16
При этом критерием, подлежащим оптимизации (например, минимизации),
является среднеквадратичное отклонение рассчитанных интенсивностей
порядков дифракции от заданных. Дополнительные условия обычно
формулируются исходя из физических и конструктивных ограничений.
Для решения задач дифракции электромагнитной волны на
оптических наноструктурах применяются не только дифференциальные
методы, которые были рассмотрены до этого, но и интегральные методы.
Они основаны на решении интегральных уравнений, как правило,
линейных интегральных уравнений Фредгольма второго рода. Это методы
конечных и граничных элементов в постановке Ритца или Галеркина,
метод прямого сведения интегрального уравнения к линейной системе
алгебраических уравнений или использование алгоритма быстрого
преобразования Фурье для итеративного решения интегрального
уравнения типа свертки. В последние годы обрел особую популярность
многосеточный метод, основанный на дискретных вариационных
принципах и дискретных методах геометрического интегрирования.
Отличительной особенностью решения дифракционных задач
интегральным методом является то, что нет необходимости в разработке
специальных условий на границе области расчета. Кроме того, после
нахождения поля дифракции внутри оптической решетки и в малой
окрестности вокруг нее с помощью того же интегрального преобразования
можно найти электромагнитное поле в любой другой точке пространства.
В учебном пособии [5] было показано, что для описания процессов
рассеяния света на неоднородностях нанометрового размера, т.е.
субволновых размеров для видимого света, нужно в качестве
математической модели описываемого процесса использовать систему
уравнений Максвелла вместе с уравнениями материальной связи.
Различные представления уравнений материальной связи, в свою очередь,
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 14
- 15
- 16
- 17
- 18
- …
- следующая ›
- последняя »
