ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
38
ГЛАВА 2. ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛОВ
МЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
2.1 Принцип работы электронного микроскопа
В последние десятилетия сканирующая электронная микроскопия
вошла во многие области науки и промышленности. Сканирующие
электронные микроскопы используют для анализа материалов в
машиностроении, в электронной и полупроводниковой промышленности, в
биологии, химии и медицине. Во многих научных и производственных
лабораториях уже невозможно представить себе быстрое и точное решение
прикладных задач без использования сканирующей электронной
микроскопии. Причина этого, безусловно, заключается в высокой
информативности метода, а также простом и удобном управлении
современным оборудованием.
Сканирующая электронная микроскопия имеет ряд преимуществ по
сравнению с традиционной световой микроскопией. Важнейшими из них
являются:
- Большая разрешающая способность (увеличение может
варьироваться в пределах от 10´ до 300000´).
- Высокая глубина резкости (при увеличении 500´ глубина фокуса в
10000 раз больше, чем у оптического микроскопа, т.е. порядка 500 мкм),
которая позволяет наблюдать объемное изображение структуры и
объективно оценивать пространственную конфигурацию ее элементов.
- Относительно небольшие препаративные затраты.
- Лёгкая интерпретация полученных изображений благодаря
трёхмерному представлению.
- Использование различных механизмов контрастирования для
создания изображений.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 36
- 37
- 38
- 39
- 40
- …
- следующая ›
- последняя »
