ВУЗ:
Составители:
170
зависимость скорости травления от вида и концентрации легирующей
примеси (рис. 4.5.2,з). Более высокую скорость РТ кремния,
легированного фосфором, по сравнению с кремнием, легированным
бором, можно объяснить более высокой летучестью PF
5
по сравнению с
BF
3
.
По сравнению с плазменным и реактивным ионно-плазменным
травлением, РТ обладает следующими преимуществами:
1. При РТ температура обрабатываемых подложек значительно ниже,
поэтому может быть получена большая селективность травления
различных материалов. Так, отношение скоростей травления Si/SiO
2
в CF
4
при плазменном травлении равно 8 - 10, а при радикальном
травлении возрастает до 30 - 50. Нагревание подложек, подвергаемых
радикальному травлению, происходит вследствие экзотермического
эффекта химической реакции и излучения плазмы. Равновесная
температура в зоне реакции при радикальном травлении внутри
перфорированного цилиндра обычно не превышает 150°С, что
значительно ниже температуры, которая установилась бы при
отсутствии цилиндра. Это можно объяснить отсутствием внутри
цилиндра рекомбинации заряженных частиц, при которой выделяется
большое количество тепла, а также отсутствием ионной и
электронной бомбардировки обрабатываемых подложек.
2. При некоторых режимах возможно РТ через незадубленные
фоторезистивные маски. Хорошая стойкость фоторезиста при
радикальном травлении позволяет использовать тонкие маски (0.1—
0.3 мкм) и получать более высокое разрешение элементов
микросхем.
3. Отсутствие ионной бомбардировки поверхности пластин исключает
термические и радиационные повреждения кристаллических
структур, а также и появление индуцированных зарядов на
обработанной поверхности. Последнее особенно важно при
производстве МДП структур.
Так как РТ обеспечивается только химической реакцией между
активными частицами и атомами обрабатываемого материала, его
основным недостатком является изотропность, то есть скорость
травления по нормали к поверхности близка к скорости бокового
подтравливания. На величину подтравливания оказывают влияние, в
основном, три фактора: температура обрабатываемых подложек,
площадь, подвергаемая травлению, и состав рабочего газа. Снижение
температуры уменьшает подтравливание, но при этом снижается
абсолютное значение скорости травления. Поэтому для повышения
скорости травления в рабочий газ CF
4
добавляют О
2
. Меньшее
подтравливание наблюдается при малых площадях обрабатываемого
зависимость скорости травления от вида и концентрации легирующей
примеси (рис. 4.5.2,з). Более высокую скорость РТ кремния,
легированного фосфором, по сравнению с кремнием, легированным
бором, можно объяснить более высокой летучестью PF5 по сравнению с
BF3.
По сравнению с плазменным и реактивным ионно-плазменным
травлением, РТ обладает следующими преимуществами:
1. При РТ температура обрабатываемых подложек значительно ниже,
поэтому может быть получена большая селективность травления
различных материалов. Так, отношение скоростей травления Si/SiO2
в CF4 при плазменном травлении равно 8 - 10, а при радикальном
травлении возрастает до 30 - 50. Нагревание подложек, подвергаемых
радикальному травлению, происходит вследствие экзотермического
эффекта химической реакции и излучения плазмы. Равновесная
температура в зоне реакции при радикальном травлении внутри
перфорированного цилиндра обычно не превышает 150°С, что
значительно ниже температуры, которая установилась бы при
отсутствии цилиндра. Это можно объяснить отсутствием внутри
цилиндра рекомбинации заряженных частиц, при которой выделяется
большое количество тепла, а также отсутствием ионной и
электронной бомбардировки обрабатываемых подложек.
2. При некоторых режимах возможно РТ через незадубленные
фоторезистивные маски. Хорошая стойкость фоторезиста при
радикальном травлении позволяет использовать тонкие маски (0.1—
0.3 мкм) и получать более высокое разрешение элементов
микросхем.
3. Отсутствие ионной бомбардировки поверхности пластин исключает
термические и радиационные повреждения кристаллических
структур, а также и появление индуцированных зарядов на
обработанной поверхности. Последнее особенно важно при
производстве МДП структур.
Так как РТ обеспечивается только химической реакцией между
активными частицами и атомами обрабатываемого материала, его
основным недостатком является изотропность, то есть скорость
травления по нормали к поверхности близка к скорости бокового
подтравливания. На величину подтравливания оказывают влияние, в
основном, три фактора: температура обрабатываемых подложек,
площадь, подвергаемая травлению, и состав рабочего газа. Снижение
температуры уменьшает подтравливание, но при этом снижается
абсолютное значение скорости травления. Поэтому для повышения
скорости травления в рабочий газ CF4 добавляют О2. Меньшее
подтравливание наблюдается при малых площадях обрабатываемого
170
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 168
- 169
- 170
- 171
- 172
- …
- следующая ›
- последняя »
