ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
55
Сложность операции совмещения состоит в том, что приходится с высокой
точностью совмещать элементы малых размеров на большой площади. Для этого
увеличение микроскопа должно быть не менее 200 раз.
Существует два метода совмещения фотошаблонов с подложками: визуальный,
при котором, выполняя совмещение, наблюдают за контрольными отметками в
микроскоп (при этом точность совмещения составляет 0,25-1 мкм и зависит от
возможностей установки) и автоматизированный фотоэлектрический с помощью
фотоэлектронного микроскопа, обеспечивающий точность совмещения 0,1-0,3 мкм.
Рис. 1. Фигуры совмещения на
фотошаблонах (I) и подложках после
второй (II) и четвертой (III)
фотолитографии:
а - концентрические окружности,
б - вложенные квадраты,
в- биссекторные знаки
Современные установки совмещения и экспонирования представляют собой
сложные оптико-механические комплексы. Точность совмещения и
производительность зависят от выбранного метода совмещения - визуального или
фотоэлектрического.
Как уже отмечалось, совмещение и экспонирование выполняют на одной
установке (рис.2), при этом подложка 9 с помощью подающей кассеты 1
перемещается по конвейеру 2 в устройство совмещения 3, где точно ориентируется
относительно фотошаблона 4 при наблюдении в микроскоп 5.
После совмещения микроскоп автоматически отводится в сторону, на его
место устанавливается осветитель 6 и проводится экспонирование. Затем подложка
подается в приемную кассету 8 и по конвейеру 7 перемещается на операцию
проявления.
Рис.2. Установка совмещения и
контактного экспонирования:
1,8- подающая и приемная
кассеты, 2,7- конвейеры,
3- устройство совмещения,
4- фотошаблон, 5- микроскоп,
6 - осветитель, 9 – подложки.
Сложность операции совмещения состоит в том, что приходится с высокой
точностью совмещать элементы малых размеров на большой площади. Для этого
увеличение микроскопа должно быть не менее 200 раз.
Существует два метода совмещения фотошаблонов с подложками: визуальный,
при котором, выполняя совмещение, наблюдают за контрольными отметками в
микроскоп (при этом точность совмещения составляет 0,25-1 мкм и зависит от
возможностей установки) и автоматизированный фотоэлектрический с помощью
фотоэлектронного микроскопа, обеспечивающий точность совмещения 0,1-0,3 мкм.
Рис. 1. Фигуры совмещения на
фотошаблонах (I) и подложках после
второй (II) и четвертой (III)
фотолитографии:
а - концентрические окружности,
б - вложенные квадраты,
в- биссекторные знаки
Современные установки совмещения и экспонирования представляют собой
сложные оптико-механические комплексы. Точность совмещения и
производительность зависят от выбранного метода совмещения - визуального или
фотоэлектрического.
Как уже отмечалось, совмещение и экспонирование выполняют на одной
установке (рис.2), при этом подложка 9 с помощью подающей кассеты 1
перемещается по конвейеру 2 в устройство совмещения 3, где точно ориентируется
относительно фотошаблона 4 при наблюдении в микроскоп 5.
Рис.2. Установка совмещения и
контактного экспонирования:
1 , 8 - подающая и приемная
кассеты, 2 , 7 - конвейеры,
3- устройство совмещения,
4- фотошаблон, 5- микроскоп,
6 - осветитель, 9 – подложки.
После совмещения микроскоп автоматически отводится в сторону, на его
место устанавливается осветитель 6 и проводится экспонирование. Затем подложка
подается в приемную кассету 8 и по конвейеру 7 перемещается на операцию
проявления.
55
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 53
- 54
- 55
- 56
- 57
- …
- следующая ›
- последняя »
