ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
12
непосредственно на резисте и позволяет исключить
использование дорогостоящих шаблонов.
Острофокусированные ионные пучки также могут
применяться:
для локального препарирования ИМС и микрообъектов,
а также анализа их внутреннего строения (осуществляется
вытравливанием углубления прямоугольной формы с
последующей ионной полировкой перпендикулярного к
поверхности среза для просмотра);
реконструкции объектов микроэлектроники и
микромеханики (изменение геометрии микрообъектов,
устранение топологических ошибок);
изготовления объёмных и планарных микро- и
наноразмерных объектов (вытравливание наноструктур по
шаблону, который создаётся встроенными программными
средствами в векторной или растровой форме);
исследования морфологии поверхности подложек в
режиме визуализации вторичных электронов, эмитированных
поверхностью при ионной бомбардировке [1,11].
Разрешающая способность технологических операций
препарирования с помощью ионного пучка находится на уровне
десятка нанометров и менее, а разрешение в микроскопическом
режиме наблюдения во вторичных электронах составляет 5 – 7
нм [11].
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 10
- 11
- 12
- 13
- 14
- …
- следующая ›
- последняя »