ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
12
непосредственно  на  резисте  и  позволяет  исключить 
использование дорогостоящих шаблонов. 
Острофокусированные  ионные  пучки  также  могут 
применяться: 
  для локального препарирования ИМС и микрообъектов, 
а  также  анализа  их  внутреннего  строения  (осуществляется 
вытравливанием  углубления  прямоугольной  формы  с 
последующей  ионной  полировкой  перпендикулярного  к 
поверхности среза для просмотра); 
  реконструкции  объектов  микроэлектроники  и 
микромеханики  (изменение  геометрии  микрообъектов, 
устранение топологических ошибок); 
  изготовления  объёмных  и  планарных  микро-  и 
наноразмерных  объектов  (вытравливание  наноструктур  по 
шаблону,  который  создаётся  встроенными  программными 
средствами в векторной или растровой форме); 
  исследования  морфологии  поверхности  подложек  в 
режиме  визуализации  вторичных  электронов,  эмитированных 
поверхностью при ионной бомбардировке [1,11]. 
Разрешающая  способность  технологических  операций 
препарирования с помощью ионного пучка находится на уровне 
десятка нанометров и менее, а разрешение в микроскопическом 
режиме наблюдения во вторичных электронах составляет 5  – 7 
нм [11]. 
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 10
- 11
- 12
- 13
- 14
- …
- следующая ›
- последняя »
