ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Приложение 5.
Таблица П.1.
Основные операции технологического маршрута для изготовления структуры ИС на биполярных транзисторах
(Изделие 1 – 133ЛАЗ).
№№
п .п .
Наименование операции
Контролируемые
параметры
технологической
среды (ТС)
Контролируемые
параметры объекта
производства
Материалы
технологических и
защитных сред
Технологическое
оборудование
1 2 3 4 5 6
1 . Химическая обработка
пластин кремния (тип КДБ-
10) .
Время (t) обработки
в разных средах.
Температура (T) ТС.
Внешний вид
пластин после
очистки (по
количеству
светящихся точек
в темном поле
микроскопа)
Толуол, смесь Каро
(смесь H
2
SO
4
и H
2
O
2
),
перекисно-аммиачная
смесь; вода
деионизованная марки
А, кислота
фтористоводородная,
cпирт этиловый
ректификат; батист
отбеленный
мерсеризованный.
Линия «Лада-Электроника»
для хим. обработки;
микроскоп, например, типа
НУ-2Е.
2 . Окисление пластин кремния
(выращивание SiO2) по
системе:
сухой O2 – пары воды –
сухой O2 при T=1050'С
T, t, расход газов
(Мг)
Толщина окисла (h)
Кислород
газообразный, азот
газообразный, вода
деионизованная марки
А (при необходимости
10% HF), фильтр
обеззоленный, батист
отбеленный
мерсеризованный.
Печь диффузионная типа
ДОМ; прибор для измерения
толщины окисла, например,
эллипсометр.
Приложение 5. Таблица П.1. Основные операции технологического маршрута для изготовления структуры ИС на биполярных транзисторах (Изделие 1 – 133ЛАЗ). Контролируемые Контролируемые Материалы №№ параметры Технологическое Наименование операции параметры объекта технологических и п .п . технологической оборудование производства защитных сред среды (ТС) 1 2 3 4 5 6 1 . Химическая обработка Время (t) обработки Внешний вид Толуол, смесь Каро Линия «Лада-Электроника» пластин кремния (тип КДБ- в разных средах. пластин после (смесь H2SO4 и H2O2), для хим. обработки; 10) . Температура (T) ТС. очистки (по перекисно-аммиачная микроскоп, например, типа количеству смесь; вода НУ-2Е. светящихся точек деионизованная марки в темном поле А, кислота микроскопа) фтористоводородная, cпирт этиловый ректификат; батист отбеленный мерсеризованный. 2 . Окисление пластин кремния T, t, расход газов Толщина окисла (h) Кислород Печь диффузионная типа (выращивание SiO2) по (Мг) газообразный, азот ДОМ; прибор для измерения системе: газообразный, вода толщины окисла, например, сухой O2 – пары воды – деионизованная марки эллипсометр. сухой O2 при T=1050'С А (при необходимости 10% HF), фильтр обеззоленный, батист отбеленный мерсеризованный.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 111
- 112
- 113
- 114
- 115
- …
- следующая ›
- последняя »